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    成都中冷低溫科技有限公司
    • 高低溫沖擊搭配Keysight功率器件測(cè)試方案

      高低溫沖擊搭配Keysight功率器件測(cè)試方案,,高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_(tái)搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試。

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥8888更新時(shí)間:2024/11/5 17:29:19 對(duì)比
      熱流儀高低溫沖擊Keysight功率器件測(cè)試方案
    • 搭配Keysight功率器件測(cè)試方案高低溫沖擊

      搭配Keysight功率器件測(cè)試方案高低溫沖擊 ,,高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_(tái)搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試。

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 17:26:16 對(duì)比
      熱流儀高低溫沖擊Keysight功率器件測(cè)試方案
    • ATC系列 zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀

      ATC系列 zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,...

      型號(hào): ATC860 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 17:19:02 對(duì)比
      桌面型高低溫沖擊高低溫沖擊設(shè)備高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)溫度強(qiáng)迫系統(tǒng)熱流儀
    • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

      冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 17:16:12 對(duì)比
      冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
    • 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

      冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 17:14:21 對(duì)比
      冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
    • 絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

      絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱,絕緣電阻劣化(離子遷移)測(cè)試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱,可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),快捷評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:51:22 對(duì)比
      CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

      HAST高加速壽命試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:50:52 對(duì)比
      CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓

      HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:49:04 對(duì)比
      高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • PCB離子遷移測(cè)試 試驗(yàn)箱

      PCB離子遷移測(cè)試 試驗(yàn)箱,PCB離子遷移,簡(jiǎn)稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上,由于離子化金屬向相反電極移動(dòng),在相對(duì)電極還原成原來的金屬并有析出的現(xiàn)象...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:47:43 對(duì)比
      PCB離子遷移測(cè)試桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • 高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Oven

      高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Oven,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:46:48 對(duì)比
      Burn-in OvenHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化
    • HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber老化測(cè)試試驗(yàn)箱

      HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber老化測(cè)試試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:46:19 對(duì)比
      Burn-in ChamberHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
    • 半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī)

      半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī),HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:45:50 對(duì)比
      Burn-in Chamber半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
    • IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化測(cè)試機(jī)

      IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化測(cè)試機(jī),HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:44:12 對(duì)比
      IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化老化測(cè)試
    • Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修服務(wù)

      Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修服務(wù),它通過模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力,如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等,以測(cè)試產(chǎn)品的可靠性和...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:42:30 對(duì)比
      高加速壽命試驗(yàn)箱HASTEspec愛思佩克
    • 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱

      導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱,導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用,主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測(cè)的精...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:41:28 對(duì)比
      導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

      CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱,CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:40:43 對(duì)比
      CAF測(cè)試系統(tǒng)桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • 日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修

      日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修,HAST,它通過模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力,如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等,以測(cè)試...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:40:06 對(duì)比
      高加速壽命試驗(yàn)箱HAST日本hirayama平山
    • zonglen HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

      zonglen HAST高加速壽命試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:38:52 對(duì)比
      zonglen桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST
    • zonglen高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)

      zonglen高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī),HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:35:58 對(duì)比
      Burn-in OvenHAST箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化
    • HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱

      HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...

      型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:34:27 對(duì)比
      IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱

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